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LED寿命试验与评估系统技术研究取得突破

自2009年以来,政府对中上游的led产业给予了大量补贴。led产业以其低功耗、高可靠性和长寿命的优势开始快速发展。然而,led产品的可靠性参差不齐。经过简单测试,一些产品已被宣布为高可靠性和长寿命产品。然而,在使用过程中,产品可靠性问题经常发生。甚至世界知名企业也因产品可靠性问题多次召回,给企业造成巨大的经济损失。

当发光二极管应用于光耦合器的前端或作为设备的控制功能时,一旦出现问题,就会导致设备故障甚至停机,给安全生产和人身财产安全带来严重威胁。

有鉴于此,在实际生产研发过程中,有必要通过寿命测试来评估led的可靠性水平和使用寿命,掌握led产品在不同使用条件下的使用寿命,从而为用户提供合理的使用寿命信息,确保led在有效的使用寿命内正常使用。

虽然各国政府相继发布了一些标准要求,但它们促进了led产品可靠性水平的提高。然而,国内外对led寿命的研究相对较少,更多的研究集中在单个led照明问题或一般电子元件上。例如,北美照明协会IES ies2008发布的lm-80标准提出了led流明维持率的寿命要求和测试方法,2011年发布的tm21标准文件“进一步规范了如何预测按照lm80标准测试的led流明维持率数据的寿命。这些标准一直使用到现在。近年来,led寿命测试与评估系统在市场上逐渐流行。它结合了加速老化试验和寿命评估模型,大大提高了led产品的可靠性。然而,生命试验台生命评估模型在自动化、程序化、智能化程度和有效性检验等方面还有进一步改进的余地。

石杰教授的研究小组长期从事核电厂电气设备状态评估、故障诊断和寿命预测的科学研究和工程技术服务,采用新型机械执行器进行自动参数测量。与线性测试机构相比,本发明操作和复位led更加方便,行程小,占用资源少,精度高,测试效率高。

此外,史教授带领研究小组,利用基于概率统计的逆方法,验证了测试数据的分布模型、回归方程的意义以及arrhenius模型的适用性。将统计检验方法应用于发光二极管电热老化寿命的评估,通过夏皮罗-威尔克检验验证了检验数据的正态性,通过方差齐性分析验证了arrhenius模型的适用性,并通过回归方程的显著性检验对回归方程的显著性和相关性进行了统计检验。然后将北美照明工程协会和美国国家标准协会发布的标准文件lm-80和tm-21应用于led寿命评估系统,大大提高了led寿命预测结果的可靠性。

此外,石教授的研究小组在原有的led老化试验台中增加了应用终端功能,实现了所有远程人机交互功能,包括监控和显示、参数设置、控制等。,使测试平台更加灵活方便。

目前,“一种led老化状态自动检测及寿命评估系统及方法”、“一种led测试自动控制系统”和“一种led特性参数自动采集系统”已申请国家发明专利。在上述创新和改进的基础上,不仅大大提高了led寿命测试系统的自动化程度和寿命预测的可靠性,而且实现了寿命测试台的所有远程人机交互功能,完全实现了led寿命测试评估系统的高度智能化和程序化。

来源:中国网

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